SAR ADC设计——SAR Logic原理
参考:集成电路设计实践 SAR ADC 清华大学 李福乐
文章目录
SAR ADC设计——SAR Logic原理一. Overview二. TSPC(True Single Phase Clock)三. SC_Gen(Sequential Control Generator)四. LATCH_Dynamic五. 时序控制逻辑总结六. SW产生七. DO产生八. GT产生九. SAR Logic模块总结
一. Overview
输入:CKC,CompB,SAMPLEB 输出:SW,DO,GT ![在这里插入图片描述](https://img-blog.csdnimg.cn/a4677aa9c6cd4feaa234414f29a17e9f.png?x-oss-process=image/watermark,type_d3F5LXplbmhlaQ,shadow_50,text_Q1NETiBA5aSP6aOO5ZaD5ZaD,size_20,color_FFFFFF,t_70,g_se,x_16)
二. TSPC(True Single Phase Clock)
TSPC简单来看就是一个异步低电平复位,时钟下降沿触发的触发器。
三. SC_Gen(Sequential Control Generator)
SC_Gen的理解: f1为复位信号。f1为低电平时,输出为低电平;f1为高电平时,输出与S反相(SC_gen形成一个输入为S的反相器)。 产生了一个脉宽为f1与S上升沿差的脉冲。
四. LATCH_Dynamic
LATCH_Dynamic理解: f1为复位信号。 当f1为低电平时,输出为高电平。 当f1为高电平时,则看选通信号SC1。当SC1高电平,则输出与Q反向;当SC1低电平,则输出被锁存,保持不变。 实现了一个异步复位锁存器。 图中可以看到,SC1高电平时,CompB存在一个脉冲,使得输出反向拉低,并在SC1低电平时此输出被锁存。 图中可以看到,SC1高电平时,CompB没有脉冲,高电平输出则被锁存。
五. 时序控制逻辑总结
SAR_Logic的时序控制是由TSPC,SC_Gen,LATCH_Dynamic三部分构成。时序控制逻辑的时序图如下所示: 时序逻辑控制理解: f1即SAMPLEB,其低电平代表采样跟踪区间,高电平代表转换区间,所以时序控制逻辑主要关注高电平。 CKC信号由MPCG产生,是比较器的时钟。 S1-S3为在f1高电平下CKC的下降沿触发的信号,三个脉冲打了三拍,产生S1-S3。 SC1-SC3为f1与S1,S1与S2,S2与S3上升沿差为脉宽的脉冲。 CompB为比较器的比较结果。 Q1-Q3为锁存的比较器的输出信号,Q1为SC1高电平时反相锁存的CompB,Q2为SC2高电平时反相锁存的CompB,Q3为SC3高电平时反相锁存的CompB。
六. SW产生
SW信号就是CDAC的选择控制信号,它是由S,Q,SC信号通过一定的逻辑产生。 产生逻辑是:SW = S & Q | SC SW产生的时序图如下所示: ![在这里插入图片描述](https://img-blog.csdnimg.cn/abaa42c09a0d47cbaf3c0afbf122d942.png?x-oss-process=image/watermark,type_d3F5LXplbmhlaQ,shadow_50,text_Q1NETiBA5aSP6aOO5ZaD5ZaD,size_20,color_FFFFFF,t_70,g_se,x_16)
七. DO产生
DO为ADC量化所得到的数字输出,它由S对SW采样所得。 经过延迟的S采样SW得到DO,采样SW得到DO,采样SW得到DO。 DO产生的时序如下图所示: ![在这里插入图片描述](https://img-blog.csdnimg.cn/0291fd75f84a4aef8d63b73abd840824.png?x-oss-process=image/watermark,type_d3F5LXplbmhlaQ,shadow_50,text_Q1NETiBA5aSP6aOO5ZaD5ZaD,size_20,color_FFFFFF,t_70,g_se,x_16)
八. GT产生
GT产生的逻辑可以化简为:GT = f1_Delay & f1 & ~S3 GT产生的时序如下图所示: GT用于触发MPCG产生第一个脉冲,此第一个脉冲可以自动持续生成多相脉冲,进一步产生CKC。
九. SAR Logic模块总结
SAR Logic理解: SAMPLEB为高电平时,即转换时间开始。
由GT = f1_Delay & f1 & ~S3可知,SAMPLEB拉高触发GT拉高。GT拉高触发MPCG产生多相CKC。多相CKC的负边沿触发拉高S。SAMPLEB与S,S与S,S与S的上升边沿差产生SC。在SC选通下Q反相锁存CompB的信号,有CompB脉冲则拉低,否则不拉低。通过锁存的Q高低电平与SW = S & Q | SC,得到CDAC控制信号SW。使用S的延迟信号采样SW得到ADC量化输出DO。根据GT = f1_Delay & f1 & ~S3,S3的拉高使得GT拉低。本次转换结束,等待下一个SAMPLEB上升沿触发GT拉高从而进入下一次转换。
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